大容量發(fā)電機組安全運行對電網(wǎng)穩(wěn)定性至關(guān)重要。轉(zhuǎn)子短路故障是汽輪發(fā)電機常見故障之一,故障較嚴(yán)重時,可能造成大軸磁化、設(shè)備燒損等情況。
發(fā)生短路故障的原因主要有兩點:①由于運行過程中的機械力、電磁力導(dǎo)致絕緣變形或局部損壞;②由于制造工藝不足造成的絕緣損壞。查找轉(zhuǎn)子接地故障常用的檢測方法有交流阻抗與功率損耗試驗、重復(fù)脈沖(recurrent surge oscillograph, RSO)試驗、繞組電壓試驗和極電壓平衡試驗等。
本文以某電廠1080MW發(fā)電機轉(zhuǎn)子短路故障為例,論述采用相關(guān)試驗等方法進行故障診斷和分析的過程;并對比故障前后的試驗結(jié)果,說明試驗分析與故障判定結(jié)果正確,確保缺陷消除后發(fā)電機狀態(tài)正常。
某廠一臺1080MW汽輪發(fā)電機組在168h試運期間發(fā)生滅磁開關(guān)跳閘動作致使機組解列,隨即針對故障開展診斷分析工作。發(fā)電機額定參數(shù)、故障前運行參數(shù)見表1。
1.1 發(fā)變組保護動作記錄
檢查發(fā)變組保護裝置,相關(guān)電氣保護動作過程見表2。其中,發(fā)電機轉(zhuǎn)子接地保護由勵磁系統(tǒng)的轉(zhuǎn)子接地保護裝置提供,轉(zhuǎn)子接地Ⅰ段定值10k 動作于報警,Ⅱ段定值5k 動作于跳閘;勵磁系統(tǒng)故障跳閘設(shè)有0.5s延時動作,轉(zhuǎn)子接地Ⅱ段跳閘設(shè)有5s延時動作。
表1 發(fā)電機額定及故障前運行參數(shù)
表2 發(fā)變組保護裝置動作記錄
1.2 故障錄波波形記錄
查看故障錄波裝置,在滅磁開關(guān)跳閘前,發(fā)電機運行正常,機端電壓、電流無異常,如圖1所示。而在滅磁開關(guān)跳閘前,勵磁電流和勵磁變高壓側(cè)電流明顯上升,勵磁電壓小幅下降情況,如圖2所示。
保護動作、開關(guān)變位的時間及順序記錄如圖3所示,其結(jié)果與發(fā)變組保護裝置事件記錄相符。其中,“轉(zhuǎn)子接地保護跳閘(A屏)”“轉(zhuǎn)子接地接地保護跳閘(B屏)”未保護啟動時,延時(定值5s)動作未計入。
1.3 勵磁系統(tǒng)記錄
為準(zhǔn)確分析故障時刻工況,查看勵磁系統(tǒng)故障波形,如圖4所示。
圖1 發(fā)電機機端電壓、電流波形記錄
圖2 勵磁電壓、電流波形記錄
圖3 保護動作及開關(guān)變位記錄
圖4 勵磁系統(tǒng)故障波形記錄
勵磁系統(tǒng)中P、Q基準(zhǔn)值為1 200MV?A;發(fā)電機電壓Ug基準(zhǔn)值481V,電流Ig基準(zhǔn)值25 661A;勵磁電壓Uf基準(zhǔn)值481V,勵磁電流If基準(zhǔn)值5327A。根據(jù)波形記錄可知故障時刻If最高達(dá)到3.08倍基準(zhǔn)值,約為16407A。
由以上各裝置的數(shù)據(jù)波形檢查可以判斷故障過程為:勵磁系統(tǒng)發(fā)生勵磁過流,導(dǎo)致滅磁開關(guān)跳閘;勵磁系統(tǒng)故障跳閘信號至發(fā)變組保護裝置,經(jīng)0.5s延時后保護動作,啟動廠用電切換,發(fā)關(guān)主汽門信號;隨后ETS動作,發(fā)熱工保護至發(fā)變組保護裝置,聯(lián)跳主變高壓側(cè)斷路器;熱工保護動作后延時約15s保護裝置收到轉(zhuǎn)子接地保護跳閘信號。
2.1 現(xiàn)場初步檢查
發(fā)電機跳閘后,轉(zhuǎn)子接地保護裝置顯示接地Ⅱ段動作、絕緣電阻1kΩ,且裝置不能復(fù)歸。斷開發(fā)電機大軸至轉(zhuǎn)子接地保護裝置接線,拆除勵磁碳刷后,轉(zhuǎn)子接地保護裝置可復(fù)歸,此時顯示絕緣電阻2MΩ,說明轉(zhuǎn)子接地保護裝置功能正常。
檢查發(fā)電機勵磁各部件無明顯損壞痕跡,經(jīng)測量勵磁直流母排絕緣電阻為2MΩ,轉(zhuǎn)子對地絕緣電阻0.1Ω,轉(zhuǎn)子繞組直流電阻0.029Ω(其出廠值為0.069Ω)。為進一步查找故障原因,采取試驗方法進行檢測分析。
2.2 轉(zhuǎn)子交流阻抗試驗
測量轉(zhuǎn)子繞組交流阻抗參數(shù),并與歷史數(shù)據(jù)對比變化趨勢,是判斷轉(zhuǎn)子繞組是否存在短路故障的常用方法。故障前后,發(fā)電機盤車工況的交流阻抗試驗數(shù)據(jù)見表3。
表3 故障前后轉(zhuǎn)子交流阻抗試驗對比
根據(jù)兩次試驗數(shù)據(jù)的明顯差異,可以判斷轉(zhuǎn)子內(nèi)部發(fā)生短路故障。
2.3 轉(zhuǎn)子繞組RSO試驗
RSO試驗原理基于行波過程理論,在轉(zhuǎn)子繞組兩端同時注入脈沖波,通過分析注入點波形和特性波形判斷繞組是否存在故障。繞組在正常情況下由于其結(jié)構(gòu)對稱性,當(dāng)兩端同時注入一致的脈沖波時,其特性波形應(yīng)為平直直線。
當(dāng)繞組存在故障時,繞組阻抗分布變化將產(chǎn)生反射波,則兩端呈現(xiàn)不同的合成波,在特性波形上表現(xiàn)為突起的尖峰。特性波形尖峰的位置、幅值與故障程度、位置有關(guān)。故障后盤車工況的RSO試驗波形如圖5所示。
圖5 故障后RSO試驗結(jié)果
根據(jù)特性波形曲線存在明顯尖峰,同樣可以判斷轉(zhuǎn)子內(nèi)部存在短路故障。
2.4 勵磁小電流開環(huán)試驗
為確定勵磁系統(tǒng)設(shè)備完好、功能正常,測量勵磁系統(tǒng)交、直流側(cè)絕緣結(jié)果合格,并進行小電流開環(huán)試驗,結(jié)果見表4。根據(jù)試驗結(jié)果可以判斷勵磁系統(tǒng)功能正常。
表4 勵磁小電流開環(huán)試驗結(jié)果
綜合上述多項試驗結(jié)果可以確定,此次勵磁系統(tǒng)過流引起的發(fā)電機解列事故,是由發(fā)電機轉(zhuǎn)子內(nèi)部發(fā)生接地短路故障造成。
根據(jù)前文所述試驗結(jié)果,并結(jié)合發(fā)電機結(jié)構(gòu)特點,推斷故障可能發(fā)生在轉(zhuǎn)子繞組前端及引出線導(dǎo)電桿兩個部位。為確認(rèn)故障發(fā)生部位,脫開發(fā)電機側(cè)導(dǎo)電螺釘后,分別測量轉(zhuǎn)子繞組和導(dǎo)電桿對地絕緣電阻。結(jié)果顯示,轉(zhuǎn)子繞組對地絕緣電阻為93MΩ,導(dǎo)電桿對地絕緣電阻為0.1Ω。由試驗數(shù)據(jù)可以基本排除轉(zhuǎn)子繞組短路情況,可進一步確定故障點發(fā)生在導(dǎo)電桿處。
抽出導(dǎo)電桿后,發(fā)現(xiàn)靠發(fā)電機側(cè)表面存在明顯燒損痕跡,并且有一處碳化擊穿點,導(dǎo)電螺釘孔底部有金屬熔融物。將導(dǎo)電桿返廠解體檢查發(fā)現(xiàn)故障點銅體局部燒損,合縫處絕緣隔板燒損、碳化;接地點熔融物沿導(dǎo)電桿合縫面軸向流動,并沿寬度方向流動至導(dǎo)電螺釘孔底面。
圖6 導(dǎo)電桿內(nèi)部損壞痕跡
由此確定引起接地故障的原因是,導(dǎo)電桿內(nèi)部兩極間短路,產(chǎn)生高溫熔化局部導(dǎo)電桿并使導(dǎo)電桿對地絕緣碳化損壞造成接地故障。根據(jù)返廠檢查結(jié)果判定此次故障由導(dǎo)電桿內(nèi)部絕緣損壞,導(dǎo)致兩極間短路,產(chǎn)生高溫熔化局部導(dǎo)電桿并使導(dǎo)電桿對地絕緣損壞造成接地。
在完成導(dǎo)電桿修復(fù)安裝后,發(fā)電機在靜態(tài)工況下進行相關(guān)試驗檢查以確保缺陷已消除。靜態(tài)工況轉(zhuǎn)子交流阻抗試驗結(jié)果見表5。
試驗數(shù)據(jù)表明修復(fù)后交流阻抗參數(shù)無異常。靜態(tài)工況轉(zhuǎn)子繞組RSO試驗結(jié)果如圖7所示,可以看出合成的特性波形曲線為一條平展直線,表明無阻抗突變點,轉(zhuǎn)子繞組無異常。
通過上述試驗以及相關(guān)檢查工作可以判斷轉(zhuǎn)子內(nèi)無異常,修復(fù)后短路故障已排除,可正常投運。
表5 修復(fù)后轉(zhuǎn)子交流阻抗試驗結(jié)果
圖7 修復(fù)后RSO試驗結(jié)果
本文詳細(xì)論述了一臺1 080MW汽輪發(fā)電機轉(zhuǎn)子短路故障的發(fā)展、診斷及處理過程。通過多項試驗分析確定該故障由導(dǎo)電桿內(nèi)兩極間短路造成,但由于故障部位損壞嚴(yán)重,尚未確定極間短路原因。
為避免同類故障的發(fā)生,提出幾點防范措施:
1)發(fā)電機在制造、運輸、安裝、維護時需進行嚴(yán)格質(zhì)量管控,以免在運行前造成設(shè)備缺陷。
2)發(fā)電機在運行過程中需對相關(guān)參數(shù)加強監(jiān)測和分析,及時發(fā)現(xiàn)異常狀態(tài)。
3)RSO試驗在判定轉(zhuǎn)子狀態(tài)、故障定位等方面有獨特優(yōu)勢,可以建立RSO試驗數(shù)據(jù)檔案,并進行長期跟蹤。
以上研究成果發(fā)表在2021年第2期《電氣技術(shù)》,論文標(biāo)題為“1080MW汽輪發(fā)電機轉(zhuǎn)子內(nèi)部短路故障分析”,作者為康逸群、宋夢瓊、宋楊。